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冷熱(re)沖擊試驗(yan)箱(xiang)根據實驗(yan)需求及測試標準分為三(san)箱(xiang)式和(he)兩(liang)箱(xiang)式，區別在于實驗(yan)方(fang)式和(he)內部結構(gou)不同。三(san)箱(xiang)式分為蓄(xu)冷室，蓄(xu)熱(re)室和(he)實驗(yan)室，產品在測試時是(shi)放置在實驗(yan)

pcb冷(leng)熱(re)沖擊試驗試驗箱根據實(shi)(shi)驗需求及測(ce)試標準(zhun)分為三箱式(shi)和兩箱式(shi)，區(qu)別在(zai)于實(shi)(shi)驗方式(shi)和內部結構不同。三箱式(shi)分為蓄冷(leng)室(shi)，蓄熱(re)室(shi)和實(shi)(shi)驗室(shi)，產品在(zai)測(ce)試時是(shi)放置在(zai)實(shi)(shi)驗

空氣中熱沖擊試驗(yan)(yan)機(ji)根據(ju)實(shi)驗(yan)(yan)需求及測(ce)試標準分為(wei)三箱式和兩(liang)箱式，區(qu)別在(zai)(zai)于實(shi)驗(yan)(yan)方式和內部結構不同。三箱式分為(wei)蓄冷室，蓄熱室和實(shi)驗(yan)(yan)室，產品在(zai)(zai)測(ce)試時是放置在(zai)(zai)實(shi)驗(yan)(yan)

線性冷熱沖擊試(shi)驗箱用于電(dian)子電(dian)器零(ling)組件(jian)、自動化(hua)(hua)零(ling)部件(jian)、通訊組件(jian)、汽車配(pei)件(jian)、金屬、塑膠等行(xing)業，國防工業、航天、兵工業、電(dian)子芯(xin)片IC、 半導體陶(tao)瓷及高(gao)分(fen)子材料(liao)(liao)之(zhi)物(wu)理(li)性變化(hua)(hua)，測試(shi)其材料(liao)(liao)對高(gao)、低(di)溫的(de)反復(fu)抵(di)拉力及產(chan)品于熱脹冷縮產(chan)出的(de)化(hua)(hua)學(xue)變化(hua)(hua)或物(wu)理(li)傷害，可確認產(chan)品的(de)品質，從精(jing)密(mi)的(de)IC到(dao)重機(ji)械的(de)組件(jian)，無(wu)一不需要(yao)它的(de)理(li)想測試(shi)工具。

高低溫(wen)(wen)(wen)冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱可(ke)(ke)以通過(guo)恒定(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)或(huo)溫(wen)(wen)(wen)度(du)變化循環產生預定(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)。工(gong)作箱是待(dai)測(ce)(ce)樣品的放置區域，可(ke)(ke)以進行沖(chong)擊測(ce)(ce)試(shi)，包括冷、熱(re)、濕等(deng)不同環境(jing)條件(jian)的沖(chong)擊測(ce)(ce)試(shi)，以測(ce)(ce)試(shi)樣品在(zai)溫(wen)(wen)(wen)度(du)環境(jing)下的耐受性(xing)和性(xing)能。

上下移動(dong)溫(wen)(wen)度(du)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)采(cai)用逆卡若循(xun)環,該循(xun)環由(you)兩(liang)個(ge)等(deng)溫(wen)(wen)過(guo)程(cheng)和兩(liang)個(ge)絕(jue)(jue)熱(re)(re)過(guo)程(cheng)組成(cheng)。過(guo)程(cheng)如(ru)下:制(zhi)冷(leng)劑(ji)(ji)經壓縮(suo)機絕(jue)(jue)熱(re)(re)壓縮(suo)到(dao)較高(gao)的(de)壓力,消(xiao)耗(hao)了功使排氣溫(wen)(wen)度(du)升高(gao),之(zhi)后制(zhi)冷(leng)劑(ji)(ji)經冷(leng)凝器等(deng)溫(wen)(wen)地和四周(zhou)(zhou)介質進(jin)行熱(re)(re)交換(huan),將熱(re)(re)量傳(chuan)給四周(zhou)(zhou)介質。后制(zhi)冷(leng)劑(ji)(ji)經閥絕(jue)(jue)熱(re)(re)膨脹(zhang)做(zuo)功,這(zhe)時制(zhi)冷(leng)劑(ji)(ji)溫(wen)(wen)度(du)降低。最(zui)后制(zhi)冷(leng)劑(ji)(ji)通過(guo)蒸發器等(deng)溫(wen)(wen)地從溫(wen)(wen)度(du)較高(gao)的(de)物體吸熱(re)(re),使被冷(leng)卻物體溫(wen)(wen)度(du)降低。此循(xun)環周(zhou)(zhou)而復始從而達到(dao)降溫(wen)(wen)之(zhi)目的(de)。