電(dian)路板快(kuai)速(su)溫(wen)變試驗箱是一種用于模(mo)(mo)擬電路板在端溫(wen)度快(kuai)速變(bian)化(hua)環境下(xia)的工作性能的測(ce)試(shi)設備。這種試(shi)驗箱能夠快(kuai)速地(di)調整(zheng)內部溫(wen)度，從而在短時間(jian)內模(mo)(mo)擬電路板可能遇到的高溫(wen)、低(di)溫(wen)以及溫(wen)度急劇變(bian)化(hua)的情況(kuang)。

主要應用包括：

可(ke)(ke)(ke)靠性(xing)(xing)測試：通過模擬電(dian)路板在端溫度(du)條件下的(de)工(gong)作情況(kuang)，評估其(qi)可(ke)(ke)(ke)靠性(xing)(xing)和穩定(ding)性(xing)(xing)。這種(zhong)測試可(ke)(ke)(ke)以幫助(zhu)制(zhi)造商識別潛在的(de)設(she)計或制(zhi)造缺(que)陷(xian)，從而(er)改進產品質量。

內箱尺寸(cun)：500*750*600mm ;     (W* H *D)

外(wai)型尺(chi)寸(cun)(約)：1050*1850*1100 mm  (W* H *D)

開孔1：開于設備 左(zuo)側(ce) 直(zhi)徑200mm*1個用于裝客戶(hu)的(de)玻璃，做好卡(ka)玻璃的(de)卡(ka)槽；孔中心距地面1150mm高(gao)，并(bing)配加熱除霜裝置

開(kai)孔2：直徑50mm，位于左側開(kai)直徑200的孔下面用來接(jie)線路使用

加玻(bo)璃(li)門：玻(bo)璃(li)門上開2個直徑130mm 孔

溫(wen)度(du)范圍：-60℃～+150℃(-40~+80℃快速升(sheng)降)（水冷式）

濕度范圍(wei)：20 %～98 % R.H

降溫速率：非線性升溫5℃/min（空載)

升溫速率：非線性降溫5℃/min（空載)

壽命預測：通過(guo)快速(su)溫變循環，可以加速(su)電路板的(de)老(lao)化過(guo)程(cheng)，從而(er)預測其在(zai)正常使用(yong)條件下的(de)壽命。這(zhe)對(dui)于評估(gu)產品生命周(zhou)期(qi)和(he)制定維護(hu)計(ji)劃非(fei)常重(zhong)要(yao)。

質量控制：在(zai)電路板生(sheng)產過程中，快(kuai)速溫變試驗箱可以用于檢測每批產品的性能一(yi)致性，確保產品符合(he)質量標準。

研發支(zhi)持：在電路(lu)板設(she)計(ji)階段，使用快速(su)溫(wen)變試驗箱可以(yi)幫助工程(cheng)師了解設(she)計(ji)在不同溫(wen)度(du)條件下的性能表現，從而(er)優化設(she)計(ji)方案。

特點通常包括：

快(kuai)(kuai)速升降(jiang)(jiang)溫：能(neng)夠(gou)在短時(shi)間內實(shi)現溫度的快(kuai)(kuai)速升高和(he)降(jiang)(jiang)低，以模擬實(shi)際使用(yong)中可能(neng)遇到的溫度變化。

精確(que)(que)控(kong)溫(wen)：采用先進(jin)的溫(wen)度(du)控(kong)制系統(tong)，確(que)(que)保試驗箱內部溫(wen)度(du)的穩定性和(he)精確(que)(que)性。

大容量(liang)：試驗箱內(nei)部通常具有足(zu)夠(gou)的空(kong)間，可以(yi)容納多個(ge)電路板同時進行(xing)測試。

安全(quan)保(bao)(bao)護(hu)：具備(bei)多(duo)種安全(quan)保(bao)(bao)護(hu)措施，如過溫(wen)保(bao)(bao)護(hu)、過流保(bao)(bao)護(hu)等，確保(bao)(bao)測(ce)試過程的安全(quan)可靠。

數(shu)(shu)據記(ji)錄與分析(xi)：能夠自動記(ji)錄測試過程中的溫(wen)度變化和電(dian)路板(ban)性能數(shu)(shu)據，并提供數(shu)(shu)據分析(xi)功能，幫助(zhu)用戶(hu)更(geng)好地(di)了解(jie)測試結果。

總之，電路板快速溫變試驗箱是電子制造行業中重要的測試設備之一，它能夠幫助制造商評估電路板在不同溫度條件下的性能表現，提高產品質量和可靠性。