老化試驗房，也被稱為高溫試驗室或燒機房，是一種針對高性能電子產品（如計算機整機、顯示器、終端機、車用電子產品、電源供應器等）進行高溫、惡劣環境測試的設備。其主要目的是通過模擬高溫等惡劣環境，測試產品的性能穩定性與可靠性，從而提高產品的質量和競爭力。6.1.內(nei)容積 12m3

6.2.設(she)備尺寸 內箱尺寸：W(3000 )mm × H( 2000)mm × D( 2000)mm；
外(wai)型尺寸：約W(3500 )m × H(2300)mm × D(2300)mm  以實(shi)際尺寸為標準(zhun)
6.3.開門(men)尺寸 單(dan)開門(men)：W900mm×H1800mm；（ 可依客戶要求選擇或定制(zhi)）
七、性能指(zhi)標
7.1.滿足標(biao)準(zhun) GB/T 5170.2-2008 溫度試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試(shi)驗方(fang)法Bb
GJB150.3-1986   高溫試驗
GJB150.3(ML-STD0-810D)高(gao)溫(wen)試(shi)驗方(fang)法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高(gao)溫壽命試(shi)驗
（每立(li)方米(mi)負載(zai)不大于(yu)35kg/m3鋼的(de)熱容量，濕熱試驗(yan)時無有(you)源濕、熱負載(zai)）
7.2.溫度(du)范(fan)圍 RT+10～60℃
7.3.溫度波動 溫度：≤±0.5℃  
（指控(kong)制器設(she)定(ding)值和(he)控(kong)制器實測值之(zhi)差）
7.4.溫度均勻度 溫度：≤5.0℃
（均勻度(du)為每次空載測試中實測最高(gao)溫度(du)和低溫度(du)之差(cha)的算術(shu)平均值）
7.5.溫度升溫時間 約30min
八、結構特(te)征
8.1.試驗室(shi)保溫(wen)結構
內外(wai)壁(bi)材料：五面 5cm厚彩(cai)鋼板具(ju)有輕(qing)質、高強度、保溫隔熱、美觀耐用等優點
8.2.空氣調節(jie)通(tong)道 風機、加熱(re)器(qi)、蒸發器(qi)、風門、溫度傳感器(qi)
8.3.試驗(yan)室(shi)體(ti)配置 1.引線孔(kong)：標(biao)配1個；φ100mm位(wei)于箱(xiang)體(ti)背面兩(liang)側各一個 （到(dao)安裝現場開孔(kong)）
2. 觀察窗：約長60cm*寬40cm透明(ming)電熱膜中空鋼(gang)化玻璃1套（位于門上）
3 .室(shi)內安裝(zhuang)防潮防爆燈(deng)2套，照(zhao)亮整個測試(shi)(shi)室(shi)，以便檢測測試(shi)(shi)狀態；

4 .試驗室操作(zuo)保養手冊、控制器說明書(shu)、保修卡、合格(ge)證、各一份(fen)。
老化試驗房廣泛應用(yong)于電(dian)(dian)源電(dian)(dian)子、電(dian)(dian)腦(nao)、通(tong)訊、生(sheng)物制藥等領域，成為各生(sheng)產(chan)企業(ye)提高(gao)產(chan)品(pin)質(zhi)量(liang)和(he)競爭(zheng)性(xing)的(de)重要手(shou)段。通(tong)過這個(ge)測(ce)(ce)試程序(xu)，企業(ye)可以檢測(ce)(ce)出(chu)有(you)缺陷的(de)產(chan)品(pin)或零件，快速發現和(he)解決(jue)問題，從而全面(mian)提升生(sheng)產(chan)效率(lv)和(he)產(chan)品(pin)質(zhi)量(liang)。