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當前位置：首頁 > 產品中心 > 可程式恒溫恒濕試驗箱 > 快溫變高低溫試驗箱 > AP-HX-225C6高(gao)低溫試驗箱熱轉印標(biao)識牌
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| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 儀器種類 | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 1萬-5萬 |
| 應用領域 | 建材,電子,交通,印刷包裝,紡織皮革 | 內尺寸 | 500*600*500mm |
高低溫試驗箱熱轉印標識牌是一種用于測試熱轉印標識牌在高低溫環境下的性能表現的設備。這種試驗箱通過模擬溫度條件，對標識牌進行加熱和冷卻，以評估其在不同溫度下的耐久性、穩定性和可靠性。
作(zuo)原理(li)：該試驗箱(xiang)通過內部加(jia)熱和(he)制(zhi)冷(leng)(leng)系統，實現(xian)高(gao)溫和(he)低溫環境的模(mo)擬。標(biao)識牌被放置在試驗箱(xiang)內，經過一定時間的加(jia)熱或冷(leng)(leng)卻(que)，以(yi)測(ce)試其在不同溫度下的表現(xian)。
內容(rong)積225L
內(nei)箱尺寸 500*750*600mm (W* H *D)
外型尺寸(約) 1050*1850*1100mm (W* H *D)
重 量(liang) 約(yue)280㎏
溫度范圍 -60℃～+150 ℃ (風冷(leng)式)
降溫速(su)率 RT～-60℃(空(kong)載(zai))約1℃/min
升溫速率 RT～+150℃(空載)約3℃/min
溫度穩定度 ±0.5℃
溫度解析(xi)精度 0.01℃
溫度(du)均勻度(du) ＜2.0℃
溫度偏(pian)差±2℃
配備先進的(de)控(kong)制(zhi)系統，可(ke)以**控(kong)制(zhi)溫度(du)、濕(shi)度(du)和(he)時間等(deng)參(can)數。用戶可(ke)以根據需要設定測試程序，并(bing)實時監(jian)控(kong)測試過(guo)程。
通過高低溫試驗箱熱轉印標識牌的測試，可以了解標識牌在不同溫度環境下的性能變化，為產品的設計、生產和應用提供重要參考。這種設備在標識牌制造、質量檢測以及產品改進等方面具有廣泛的應用價值。
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