高壓加速老化試驗機HAST是一種用于模擬電子元器件、機械零件等在高壓力、高溫、高濕度等惡劣環境下長期工作的設備，從而分析其使用壽命、故障分布函數、失效率上升的原因等。該設備廣泛應用于半導體、航空航天、汽車、電子電器、科研等領域。

特(te)點

1.采用(yong)進口耐高溫電(dian)磁閥雙(shuang)路(lu)結構(gou)，降低了使用(yong)故障率。

2.獨立蒸汽發(fa)生室，避免蒸汽直接沖(chong)擊產(chan)品(pin)，以(yi)免造成產(chan)品(pin)局部破壞。

3.門鎖(suo)省(sheng)力結構，解決(jue)第一代產(chan)品圓盤式(shi)手柄的(de)鎖(suo)緊困難的(de)缺點。

4.試驗前(qian)排冷(leng)空(kong)氣;試驗中排冷(leng)空(kong)氣設計(ji)(試驗桶內空(kong)氣排出(chu))提高壓力穩定性、再現性.

5.超(chao)長(chang)效實(shi)驗(yan)運轉時間，長(chang)時間實(shi)驗(yan)機(ji)臺運轉400小時.

6.水位(wei)保護(hu)，透過試驗(yan)室內水位(wei)Sensor檢知保護(hu).

7.tank耐(nai)(nai)壓(ya)設計，箱體(ti)耐(nai)(nai)壓(ya)力(150℃)2.65kg，符合水壓(ya)測試6kg.

8.二段式壓力安全保護裝置(zhi)，采兩(liang)段式結合控制器與機械式壓力保護裝置(zhi).

9.安(an)全保護排(pai)壓(ya)鈕，警急安(an)全裝置二段(duan)式自動排(pai)壓(ya)鈕 .

10.偏壓(ya)測試(shi)端子(zi)耐壓(ya)可(ke)達(da)3000V(選配(pei)）

11.USB導出歷史(shi)記錄(lu)數據(ju)，曲(qu)線.

箱子尺寸

4.1.內箱(xiang)尺寸HAST-40（∮400 mm x L500 mm）圓型試驗箱(xiang)

4.2.外型(xing)尺寸(約)約1150x  980 x 1850 mm ( W * D * H )立(li)式(shi)

五、性能指標(biao)

1.設定(ding)溫度:  +105 ℃  ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

2.濕(shi)度范圍：75~100 % 蒸氣濕(shi)度

3.濕度控制(zhi)穩定(ding)度：±3%RH

4.使(shi)用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

5.時間范(fan)圍: 0 Hr ～ 999 Hr

6.加壓時間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分(fen)

7.溫度波動均勻(yun)度 : ±2℃

8.溫度(du)顯示精(jing)度(du)：0.1℃

9.壓力波動(dong)均勻(yun)度(du) : ±0.1Kg

10.濕度(du)分布均(jun)度(du)：±3%RH

高壓加速老化試驗機HAST的主(zhu)要技術參數包括溫(wen)度(du)范圍(wei)(wei)、濕(shi)度(du)范圍(wei)(wei)、壓力范圍(wei)(wei)等，可以根(gen)據不同客戶的需求進行定(ding)制。同時(shi)，該設備還(huan)配(pei)備了多種安全裝置(zhi)，如鍋內安全裝置(zhi)、安全閥、雙重(zhong)過熱保護裝置(zhi)等，以確保試(shi)驗過程的安全可靠。