高(gao)頻(pin)正(zheng)玄(xuan)波振(zhen)動(dong)臺(tai)是一款(kuan)經濟型，但高(gao)性價比的(de)一款(kuan)正(zheng)弦振(zhen)動(dong)試驗(yan)設備(bei)（功能(neng)函(han)蓋定(ding)頻(pin)振(zhen)動(dong)、線性掃(sao)頻(pin)振(zhen)動(dong)、對數掃(sao)頻(pin)、倍頻(pin)、程式等），在試驗(yan)室(shi)內模擬電工電子產品在運輸（船舶、飛機、車輛、空間飛行(xing)器上所產生的(de)振(zhen)動(dong)）、儲存、使(shi)用過(guo)程中所遭受(shou)的(de)振(zhen)動(dong)及其影響(xiang)，并考(kao)核其適應性。

電磁振動臺廣泛應用于汽車零部件、儀器儀表、玩具等各行各業的產品設計、研發、制造過程中，模擬產品在運送、使用中產生的碰撞及振動，檢測產品實際工況和結構強度。控(kong)(kong)制系(xi)統采(cai)用品(pin)牌高感度(du)觸(chu)控(kong)(kong)式彩色液(ye)晶顯示(shi)器，直接(jie)觸(chu)摸選項，測試參(can)數設置直觀、簡(jian)捷，適時顯示(shi)當(dang)前執行程式、適時顯示(shi)當(dang)前振動頻率、繪制頻率曲線功能。

設備(bei)尺寸(cun)

工作臺面(mian)尺(chi)寸(cun)（W）1000×（D）1000mm

工(gong)作臺體尺寸（W）1000×（D）1000×（H）790mm

控制箱(xiang)尺寸（W）450×（D）400×（H）1080mm

高頻正玄波振動臺產品特點

1、同一臺面(mian)實(shi)現X、Y、Z三軸振動(dong)，程序控制，頻率精準、平衡，長期運轉不漂(piao)移；
2、具有(you)單點(dian)、段(duan)、多段(duan)的時間定時；
3、無級調整振(zhen)幅，具有掃頻(pin)及定頻(pin)功能，適應不(bu)同行業的測試(shi)要求；
4、內(nei)嵌式振幅預測(ce)程序，四(si)點同步(bu)激振，臺面振動均勻；
5、增加抗干擾(rao)電(dian)(dian)(dian)路解決因(yin)強電(dian)(dian)(dian)磁場對控(kong)制電(dian)(dian)(dian)路干擾(rao)，臺面(mian)無磁性和靜(jing)電(dian)(dian)(dian)。
6、采用復(fu)合型(xing)工業(ye)材料制造，精密(mi)加(jia)工，臺體美觀大方，人性化操(cao)作及控(kong)制，采用專用測控(kong)模塊，使設備工作更穩定。
技術參數

1.調頻范圍(Hz)1～2000

2.激(ji)振力(KN)10KN

3.振動方向(xiang)三(san)軸（X+Y+Z）

4.頻率(lv)精度0.1 Hz

5.最大加(jia)速度20g

6.控制方式7寸工業觸(chu)摸屏

7.振(zhen)幅(mm)0—5

8.激振(zhen)方式(shi)電磁式(shi)

9.調幅方(fang)式電子式調幅

10.振動(dong)波(bo)形正弦波(bo)

11.設時(shi)范圍0-9999H/M/S分任意設定

12.循環次數0-9999任意設定(ding)

13.安全保(bao)護(hu)超溫、缺(que)相、短路、過流、過載

14.冷(leng)卻方式風冷(leng)

15.電(dian)源電(dian)壓(V/Hz)220/50±5%

16.消(xiao)耗(hao)功率(KVA)5.5

17.整機質(zhi)量(Kg)520

18.承重(zhong)（KG）300

測試模式

1.定頻試驗(yan)：在選定的頻率(lv)上(shang)（可以是共振頻率(lv)，特定頻率(lv)，或(huo)危險(xian)頻率(lv)）按規定的量值(zhi)進行正(zheng)弦(xian)振動試驗(yan)，并達(da)到(dao)規定要求的時間。
2.掃(sao)頻(pin)(pin)(pin)試驗：在規定(ding)的頻(pin)(pin)(pin)率范圍(wei)內(nei)，按規定(ding)的量值以一(yi)定(ding)的掃(sao)描速率由(you)低頻(pin)(pin)(pin)到高頻(pin)(pin)(pin)，再由(you)高頻(pin)(pin)(pin)到低頻(pin)(pin)(pin)作為一(yi)次(ci)掃(sao)頻(pin)(pin)(pin)，直到達到規定(ding)的總次(ci)數或時間為止。
3.倍(bei)頻(pin)試驗(yan)：倍(bei)頻(pin)掃(sao)頻(pin)應(ying)是持續的(de)且其頻(pin)率隨時(shi)間(jian)應(ying)該按指數規律進(jin)行變(bian)化，掃(sao)頻(pin)速率（掃(sao)頻(pin)過程中可控變(bian)量頻(pin)率對時(shi)間(jian)的(de)變(bian)化率df/dt）應(ying)為(wei)每分(fen)鐘一(yi)個倍(bei)頻(pin)程。有頻(pin)率范圍從f1→f2→f1掃(sao)頻(pin)一(yi)次(ci)的(de)試驗(yan)時(shi)間(jian)（加(jia)速時(shi)間(jian)），通過公式：6.644log10（高頻(pin)/低頻(pin) ）計算出來的(de)結果，且其掃(sao)頻(pin)速率保證1倍(bei)頻(pin)程/分(fen)鐘的(de)要求。
4.對數試驗：對數模式中，低頻掃描速(su)度慢，高頻掃描速(su)度快，對數掃頻以1分鐘為單位，1 分鐘時間完成掃頻速(su)率(lv)加倍(bei)。
5.隨(sui)(sui)機(ji)試驗：隨(sui)(sui)機(ji)振動是一(yi)種非確(que)定性振動，當(dang)物體(ti)作隨(sui)(sui)機(ji)振動時(shi)，我們預(yu)先不可能確(que)定物體(ti)上某監測點(dian)在未來某個時(shi)刻運動參量(liang)的瞬時(shi)值(zhi)。
6.程式試驗：依測試需求，可設置不同試驗頻(pin)率(lv)、時間(jian)，可單組(zu)或(huo)多組(zu)。