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當前位置:首頁   >  產品中心  >    >  電磁振動試驗臺  >  AP-DC-100東莞電磁式(shi)振動(dong)實(shi)驗臺 

東莞電磁式振動實驗臺

簡要描述(shu):東莞電(dian)(dian)磁式振動實(shi)驗(yan)臺(tai)用于汽(qi)車機(ji)械(xie)部件(jian)、電(dian)(dian)器部件(jian)等產(chan)品設計(ji)、研發、制造(zao)過(guo)程中質量檢測,模擬產(chan)品在運送、使用中產(chan)生的(de)碰撞及振動,檢測產(chan)品實(shi)際工況和結構強度。

  • 產品型號:AP-DC-100
  • 廠商性(xing)質:生產廠家
  • 更新(xin)時間:2024-11-10
  • 訪  問  量:1338

詳細介紹

品牌愛佩科技/A-PKJ最大加速度20g
臺面尺寸500×(D)500×(H)320mmL*W*H最大試驗負載50kg
額定頻率范圍5~3000Hz價格區間5萬-10萬
儀器類型機械振動臺產地類別國產
應用領域建材,電子,印刷包裝

一、產(chan)品名(ming)稱 東莞電磁式振動實驗臺
二、產品型號 AP-Z023-100
三、設備用(yong)途 電(dian)磁(ci)振動(dong)臺廣泛應(ying)用于汽(qi)車零(ling)部件(jian)、儀(yi)器儀(yi)表(biao)、玩具(ju)等各(ge)行各(ge)業的產(chan)品(pin)設計、研發、制造過程中(zhong),模擬產(chan)品(pin)在運送、使用中(zhong)產(chan)生的碰撞及(ji)振動(dong),檢測(ce)(ce)產(chan)品(pin)實際工況和結構(gou)強度。控制系統采用品(pin)牌高感度觸(chu)控式(shi)彩(cai)色液晶顯示器,直接(jie)觸(chu)摸(mo)選項,測(ce)(ce)試參(can)數設置直觀、簡(jian)捷(jie),適(shi)時(shi)顯示當前執行程式(shi)、適(shi)時(shi)顯示當前振動(dong)頻率(lv)、繪(hui)制頻率(lv)曲線功(gong)能。
四、設備尺(chi)寸 工作臺(tai)面尺寸(W)1000×(D)1000mm
工作臺體尺寸(W)5000×(D)1000×(H)780mm
控(kong)制箱尺(chi)寸(cun)(W)450×(D)400×(H)1080mm
五、引用標準 ISO 2247包(bao)裝.滿裝的運輸(shu)包(bao)裝和單元貨物.固定低頻(pin)率振動試(shi)驗
ISO 13355包(bao)裝(zhuang)-全部,填充運(yun)輸包(bao)裝(zhuang)和單位(wei)承載-垂(chui)直任意振動試驗
IEC 60068基本(ben)環境試驗(yan)規(gui)程
ASTM D999船運集裝箱振動(dong)測試的(de)試驗方法
ASTM D4728運輸集裝箱隨機震動試驗方法(fa)
ASTM D3580產(chan)品振動(dong)試驗(yan)(垂(chui)直線性運動(dong))的標準
GB/T 4857包(bao)裝 運輸(shu)包(bao)裝件基(ji)本試(shi)驗
GB/T 2423電工電子產品環(huan)境試驗

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六、東莞電磁式振動實驗臺產品特點

1、同(tong)一臺面(mian)實現X、Y、Z三軸振(zhen)動,程(cheng)序控制,頻率精準、平衡(heng),長期運(yun)轉不漂移;
2、具有單(dan)點、段、多段的時間(jian)定時;
3、無級調整振幅,具有掃頻及定頻功能,適應不同(tong)行業的(de)測(ce)試(shi)要求;
4、內嵌式振幅預測程序(xu),四點同步激振,臺面振動均勻;
5、增加抗干(gan)擾(rao)電路解(jie)決(jue)因強電磁場對控制電路干(gan)擾(rao),臺面(mian)無磁性和靜電。
6、采用(yong)復合(he)型工(gong)業材料制造,精密加(jia)工(gong),臺體美(mei)觀大方,人性化操作及控制,采用(yong)專用(yong)測控模塊,使設(she)備工(gong)作更穩定。
七、技術(shu)參(can)數
1.調(diao)頻范圍(wei) 5~600Hz
2.產品負(fu)載 200kg
3.頻率精度 0.1 Hz
4.最大加速度 20g
5.控制方式 工業觸摸(mo)屏
6.振幅(fu) 0-10mm(可顯示)
7.激(ji)振方(fang)式 電磁(ci)式
8.調幅(fu)方(fang)式 電子式調幅
9.振動方向(xiang) 三軸(X+Y+Z)
10.振動波形 正(zheng)弦波
11.測(ce)試模(mo)式 定頻(pin)、掃頻(pin)、倍頻(pin)、程式、對數(shu)、隨機
12.設時范圍(wei) 0-9999H/M/S分任意設定(ding)
13.循(xun)環(huan)次數 0-9999任(ren)意(yi)設定
14.電(dian)源電(dian)壓 220/50±5%(V/Hz)
15.消耗功(gong)率(lv) 1.5(KVA)
16.冷卻方式 風冷
17.其他 含 PC監控軟件、電(dian)腦(nao)
八、軟件功能(neng)

1.UTM-Z023系列振動臺軟件系統采(cai)用CIMS+FCS自主(zhu)開(kai)發的,擁有全自主知識產權,軟件免費終身更新升級;
2.系統軟(ruan)件同振動臺體采用實時通訊連(lian)接,確(que)保測試參數(shu)準確(que)無誤;
3.軟件界(jie)面直觀簡捷,多種測試模(mo)式分區(qu)設置,一鍵直達;
4.系統軟件(jian)可(ke)通過數(shu)據線連接電腦對(dui)測試結果進(jin)行(xing)存儲(chu)、輸出、或編輯;
5.控(kong)(kong)制系統(tong)采(cai)用品牌高感度觸控(kong)(kong)式彩色液晶顯示(shi)(shi)器,直接觸摸選項,測試參數設置直觀、簡捷,適時(shi)顯示(shi)(shi)當前執行程(cheng)式、適時(shi)顯示(shi)(shi)當前振動頻率、繪制頻率曲線(xian)功(gong)能(neng);
6.應用(yong)振動傳感技(ji)術裝(zhuang)置,可外接振動加速度傳感器(qi),對(dui)測試過程實時反(fan)饋。
九、測試(shi)模式

1.定頻(pin)(pin)試(shi)驗(yan):在選(xuan)定的頻(pin)(pin)率上(可以是共振頻(pin)(pin)率,特定頻(pin)(pin)率,或危險頻(pin)(pin)率)按規(gui)定的量值進(jin)行正弦振動試(shi)驗(yan),并達到規(gui)定要求(qiu)的時間。
2.掃頻(pin)(pin)試驗:在規(gui)(gui)定的(de)(de)頻(pin)(pin)率范圍(wei)內(nei),按規(gui)(gui)定的(de)(de)量值以一定的(de)(de)掃描速(su)率由低頻(pin)(pin)到高(gao)頻(pin)(pin),再由高(gao)頻(pin)(pin)到低頻(pin)(pin)作為一次掃頻(pin)(pin),直到達(da)到規(gui)(gui)定的(de)(de)總(zong)次數或時間為止。
3.倍(bei)(bei)頻(pin)(pin)試(shi)驗:倍(bei)(bei)頻(pin)(pin)掃(sao)頻(pin)(pin)應(ying)是持續的(de)(de)且其頻(pin)(pin)率隨(sui)時(shi)間應(ying)該按(an)指數規律進行變化(hua),掃(sao)頻(pin)(pin)速(su)(su)率(掃(sao)頻(pin)(pin)過(guo)程中可控變量頻(pin)(pin)率對時(shi)間的(de)(de)變化(hua)率df/dt)應(ying)為每分(fen)鐘一個(ge)倍(bei)(bei)頻(pin)(pin)程。有頻(pin)(pin)率范圍從f1→f2→f1掃(sao)頻(pin)(pin)一次的(de)(de)試(shi)驗時(shi)間(加速(su)(su)時(shi)間),通過(guo)公(gong)式:6.644log10(高(gao)頻(pin)(pin)/低頻(pin)(pin) )計算出來的(de)(de)結果,且其掃(sao)頻(pin)(pin)速(su)(su)率保證1倍(bei)(bei)頻(pin)(pin)程/分(fen)鐘的(de)(de)要(yao)求(qiu)。
4.對數(shu)(shu)試驗:對數(shu)(shu)模式中,低頻(pin)掃(sao)(sao)描速(su)度慢(man),高頻(pin)掃(sao)(sao)描速(su)度快,對數(shu)(shu)掃(sao)(sao)頻(pin)以1分鐘為單(dan)位(wei),1 分鐘時間(jian)完成(cheng)掃(sao)(sao)頻(pin)速(su)率加倍(bei)。
5.隨機試驗:隨機振(zhen)動(dong)是一種非(fei)確定(ding)性(xing)振(zhen)動(dong),當物體(ti)作隨機振(zhen)動(dong)時,我們預先不可能(neng)確定(ding)物體(ti)上某監測點在未來某個(ge)時刻運(yun)動(dong)參(can)量的瞬時值(zhi)。
6.程(cheng)式試驗(yan):依測試需求,可設置不(bu)同試驗(yan)頻率、時間,可單組(zu)或(huo)多組(zu)。

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