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當前位置:首頁   >  產品中心  >    >  電磁振動試驗臺  > ; AP-ZD-50測試(shi)電磁(ci)振動臺 

測試電磁振動臺

簡要描(miao)述:測試電磁振動臺用于汽(qi)車機械部(bu)件、電器部(bu)件等產(chan)品(pin)(pin)設計、研(yan)發、制造(zao)過程中質量檢測,模擬(ni)產(chan)品(pin)(pin)在運送、使用中產(chan)生的碰撞及振動,檢測產(chan)品(pin)(pin)實(shi)際工況和結構強度(du)。

  • 產品型號(hao):AP-ZD-50
  • 廠商(shang)性質:生產廠家
  • 更新時間(jian):2024-11-10
  • 訪  問  量:996

詳細介紹

品牌愛佩科技/A-PKJ最大加速度20g
臺面尺寸500×(D)500×(H)320mmL*W*H最大試驗負載50kg
額定頻率范圍5~3000Hz價格區間5萬-10萬
儀器類型機械振動臺產地類別國產
應用領域建材,電子,印刷包裝

一、產品名稱 測試電磁振動臺
二、產品(pin)型號 AP-Z023-100
三、設(she)備用途 電(dian)磁振動(dong)(dong)臺廣(guang)泛應用(yong)于汽車零部件、儀(yi)器儀(yi)表、玩具(ju)等(deng)各(ge)行各(ge)業的產品(pin)設計、研發、制(zhi)造過(guo)程中,模擬產品(pin)在運送、使用(yong)中產生的碰撞(zhuang)及振動(dong)(dong),檢測產品(pin)實際工況(kuang)和結構(gou)強(qiang)度。控制(zhi)系統采(cai)用(yong)品(pin)牌(pai)高(gao)感(gan)度觸控式(shi)彩色液晶(jing)顯示(shi)器,直(zhi)接觸摸選(xuan)項(xiang),測試參數(shu)設置直(zhi)觀、簡捷,適時顯示(shi)當前執行程式(shi)、適時顯示(shi)當前振動(dong)(dong)頻(pin)率、繪制(zhi)頻(pin)率曲線功能。
四、設(she)備(bei)尺寸 工(gong)作臺(tai)面尺寸(W)1000×(D)1000mm
工作臺(tai)體尺寸(W)5000×(D)1000×(H)780mm
控制(zhi)箱尺寸(W)450×(D)400×(H)1080mm
五、引用標準 ISO 2247包裝.滿裝的運輸包裝和單元(yuan)貨物.固定低(di)頻率振(zhen)動試(shi)驗
ISO 13355包裝-全部,填充運輸包裝和單(dan)位承載(zai)-垂直任意(yi)振動試驗
IEC 60068基本環(huan)境(jing)試驗規程
ASTM D999船運集(ji)裝箱振動測試的試驗(yan)方法(fa)
ASTM D4728運輸集裝箱隨機震動(dong)試驗方法(fa)
ASTM D3580產品振動(dong)試驗(垂直(zhi)線性運動(dong))的標(biao)準
GB/T 4857包(bao)裝 運輸包(bao)裝件基本試驗
GB/T 2423電工電子產品環(huan)境(jing)試驗

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六、測試電磁振動臺產品特點

1、同一臺面(mian)實(shi)現X、Y、Z三(san)軸振(zhen)動,程(cheng)序控制,頻率(lv)精準(zhun)、平(ping)衡,長期運轉(zhuan)不漂移;
2、具有單點(dian)、段、多(duo)段的時(shi)間定(ding)時(shi);
3、無級調整(zheng)振幅(fu),具有掃頻及(ji)定頻功能,適應(ying)不同行(xing)業的測試(shi)要求;
4、內嵌式振幅(fu)預測程序(xu),四點同(tong)步激振,臺(tai)面振動均勻;
5、增(zeng)加(jia)抗干(gan)擾電路解決因強(qiang)電磁場對控制電路干(gan)擾,臺(tai)面無磁性和靜電。
6、采(cai)用復(fu)合型工(gong)(gong)業材料制(zhi)(zhi)造,精密加(jia)工(gong)(gong),臺(tai)體美觀(guan)大(da)方,人性化操作(zuo)及控(kong)制(zhi)(zhi),采(cai)用專用測(ce)控(kong)模塊,使設備工(gong)(gong)作(zuo)更(geng)穩定。
七(qi)、技術參數
1.調頻范(fan)圍 5~600Hz
2.產品負載 200kg
3.頻率(lv)精(jing)度 0.1 Hz
4.最大加速度(du) 20g
5.控制(zhi)方式 工業(ye)觸摸屏
6.振幅 0-10mm(可(ke)顯示(shi))
7.激(ji)振方式 電磁式
8.調幅(fu)方式 電子式調(diao)幅
9.振動方(fang)向 三軸(zhou)(X+Y+Z)
10.振動(dong)波形 正弦波
11.測試模式 定頻(pin)、掃頻(pin)、倍(bei)頻(pin)、程式(shi)、對數、隨機
12.設時(shi)范圍 0-9999H/M/S分任意設定
13.循環次數 0-9999任(ren)意設定
14.電源電壓 220/50±5%(V/Hz)
15.消耗(hao)功率(lv) 1.5(KVA)
16.冷(leng)卻方式 風冷
17.其(qi)他 含 PC監(jian)控軟件、電(dian)腦
八(ba)、軟件功能(neng)

1.UTM-Z023系列振動臺(tai)軟件(jian)系統采用CIMS+FCS自主開發的,擁有(you)全自主知識產權,軟件免費終身更新升級;
2.系統軟件(jian)同振動臺(tai)體采用實時通訊連接,確(que)保測試參數(shu)準確(que)無誤;
3.軟件界(jie)面(mian)直觀簡捷,多種測試模式分區設置,一鍵直達;
4.系統軟件(jian)可(ke)通過數據(ju)線連接電腦(nao)對測(ce)試結果進行(xing)存(cun)儲(chu)、輸出、或(huo)編輯(ji);
5.控(kong)制系統(tong)采用(yong)品牌高感度觸控(kong)式(shi)彩色液晶顯(xian)示(shi)(shi)器,直接(jie)觸摸選(xuan)項,測(ce)試參數(shu)設置直觀、簡捷,適時顯(xian)示(shi)(shi)當前(qian)執行(xing)程式(shi)、適時顯(xian)示(shi)(shi)當前(qian)振動(dong)頻(pin)率(lv)(lv)、繪制頻(pin)率(lv)(lv)曲線功能;
6.應用(yong)振(zhen)動(dong)傳感技術裝置(zhi),可外接振(zhen)動(dong)加(jia)速度傳感器,對測試(shi)過程實時(shi)反(fan)饋。
九(jiu)、測(ce)試模式

1.定(ding)(ding)頻(pin)試驗:在選(xuan)定(ding)(ding)的頻(pin)率(lv)上(可(ke)以是共振頻(pin)率(lv),特(te)定(ding)(ding)頻(pin)率(lv),或危(wei)險頻(pin)率(lv))按規定(ding)(ding)的量值進行正弦振動試驗,并達到規定(ding)(ding)要求的時間(jian)。
2.掃(sao)頻(pin)(pin)(pin)試驗:在(zai)規(gui)(gui)定的(de)(de)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)范圍(wei)內,按(an)規(gui)(gui)定的(de)(de)量(liang)值以(yi)一(yi)(yi)定的(de)(de)掃(sao)描速率(lv)由低(di)頻(pin)(pin)(pin)到高頻(pin)(pin)(pin),再由高頻(pin)(pin)(pin)到低(di)頻(pin)(pin)(pin)作為一(yi)(yi)次掃(sao)頻(pin)(pin)(pin),直到達到規(gui)(gui)定的(de)(de)總(zong)次數或時間為止。
3.倍頻(pin)試驗(yan)(yan):倍頻(pin)掃(sao)頻(pin)應是持續的(de)且其頻(pin)率(lv)(lv)隨時(shi)間(jian)應該(gai)按(an)指數規律進行變(bian)化,掃(sao)頻(pin)速(su)率(lv)(lv)(掃(sao)頻(pin)過(guo)程(cheng)(cheng)中可控變(bian)量頻(pin)率(lv)(lv)對時(shi)間(jian)的(de)變(bian)化率(lv)(lv)df/dt)應為每分(fen)(fen)鐘一個(ge)倍頻(pin)程(cheng)(cheng)。有頻(pin)率(lv)(lv)范圍從f1→f2→f1掃(sao)頻(pin)一次的(de)試驗(yan)(yan)時(shi)間(jian)(加(jia)速(su)時(shi)間(jian)),通過(guo)公式:6.644log10(高頻(pin)/低頻(pin) )計算出來的(de)結果,且其掃(sao)頻(pin)速(su)率(lv)(lv)保證1倍頻(pin)程(cheng)(cheng)/分(fen)(fen)鐘的(de)要求。
4.對數試驗:對數模式中(zhong),低頻掃描(miao)速(su)度慢,高頻掃描(miao)速(su)度快,對數掃頻以1分(fen)鐘為單位,1 分(fen)鐘時間(jian)完(wan)成掃頻速(su)率加倍。
5.隨機(ji)(ji)試驗:隨機(ji)(ji)振動(dong)是一種(zhong)非確定性振動(dong),當物體(ti)作隨機(ji)(ji)振動(dong)時,我們預(yu)先不(bu)可能確定物體(ti)上某監測點在未來某個時刻(ke)運動(dong)參量(liang)的瞬時值。
6.程式試驗:依(yi)測試需求,可設(she)置不同試驗頻率、時(shi)間,可單組或多組。

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