快速溫度沖擊試驗機分為蓄(xu)冷室，蓄(xu)熱室和實驗室，產品(pin)在測(ce)試時是放置在實驗室。兩箱式分為高溫(wen)(wen)室和低(di)溫(wen)(wen)室，是通(tong)過電機帶(dai)動(dong)提籃(lan)運(yun)動(dong)來實現(xian)高低(di)溫(wen)(wen)的切(qie)換，產品(pin)放在提籃(lan)里，是隨提籃(lan)一起(qi)移動(dong)的。用戶可(ke)根據(ju)自己有實際需求選擇相關規(gui)格(ge)型號。

　　產品用途(tu)：二箱式冷熱沖(chong)擊試(shi)(shi)(shi)驗箱是金(jin)屬、塑料、橡膠、電子(zi)等材料行(xing)業(ye)備(bei)的測試(shi)(shi)(shi)設備(bei)，用于測試(shi)(shi)(shi)材料結構(gou)或復合材料,在瞬間下經*溫及(ji)極低溫的連續環境(jing)下所能忍受的程度(du),得以在短時間內檢測試(shi)(shi)(shi)樣因熱脹冷縮(suo)所弓|起的化學變化或物理傷害。

　　控制儀表可編程(cheng)，觸摸屏輸入，根(gen)據客戶要求可任(ren)意(yi)設定(ding)不(bu)同高低溫(wen)沖擊溫(wen)度點(dian)，滿(man)足(zu)做測試的不(bu)同需求。

　　試樣限制本(ben)試驗設(she)備禁止易(yi)燃(ran)、易(yi)爆(bao)、易(yi)揮發性物(wu)質(zhi)試樣的試驗或(huo)儲(chu)存(cun)腐蝕性物(wu)質(zhi)試樣的試驗或(huo)儲(chu)存(cun)生物(wu)試樣的試驗或(huo)儲(chu)存(cun)強電磁發射源試樣的試驗或(huo)儲(chu)存(cun)。

　　兩箱特點：
       1、彩色觸控(kong)LCD中(zhong)/英文微電腦(nao)溫度控(kong)制器。

　　2、無(wu)紙式記錄(lu)功(gong)(gong)能(neng)，具實時顯示溫度沖擊試驗(yan)變化之曲(qu)線圖及記錄(lu)雙重功(gong)(gong)能(neng)。

　　3、二箱移動式(shi)冷熱沖擊，安全的氣壓驅動測試物上(shang)下來回沖擊。

　　4、冷熱沖擊(ji)機構移動時間在10秒內，可符合MIL，LEC，JIS等(deng)規范(fan)。

　　5、冷熱沖(chong)擊溫度(du)恢復時間在5分鐘內(nei)，可符(fu)合相關試驗規(gui)范。

　　6、采用(yong)HFC環保(bao)冷媒，二元超低溫冷凍系統(tong)設(she)計(ji)，降溫快(kuai)、效(xiao)率高。

 　　產品介紹：

　　內(nei)部尺寸：30cm(W)×30cm(H)×30cm(D)

　　外部尺寸：120cm(W)×166cm(H)×102cm(D)

　　沖擊溫(wen)度范(fan)圍:A-40℃~85℃B:-55℃~85℃C:-65℃~85℃

　　溫度偏差:+3℃(空載(zai)時)

　　溫(wen)度波動度.:≤1℃(空(kong)載時)

　　升溫(wen)速率：從常溫(wen)~150℃≤25min(全(quan)程平(ping)均)

　　(升溫時(shi)間為(wei)高溫箱單獨運轉(zhuan)時(shi)的性能)

　　降(jiang)溫速(su)率：從常溫~-55℃≤45min(全(quan)程平均)

　　(降溫(wen)時間(jian)為低(di)溫(wen)箱單獨運轉時的性能)

　　時(shi)間設定范圍:1~60000M

　　溫(wen)度(du)恢復時間:≤5min

　　提籃轉化時間:≤15s

　　觀(guan)察窗:210x275mm或395x395mm(有效視(shi)界)

　　外箱材質(zhi)(zhi)：優(you)質(zhi)(zhi)A3鋼板靜電噴(pen)塑

　　內箱材質：不銹鋼SUS304

　　保溫材質(zhi):硬質(zhi)聚(ju)氨(an)酯(zhi)泡沫+玻璃纖維

　　溫度控制器:APKJ品牌溫度儀表

　　溫(wen)度傳感器::PT100鉑(bo)金(jin)電阻測溫(wen)體

　　標準配(pei)置:提(ti)籃(lan)樣品架1套

　　安全保護:壓(ya)縮機超壓(ya)過載(zai)、風機過熱整體(ti)設備欠相/逆(ni)相超溫、整體(ti)設備定時、漏電(dian)保護、過載(zai)及短路保護

　　防(fang)汗(han)機(ji)件：以系統K型管(guan)之熱能作防(fang)汗(han)處理。

　　快速溫(wen)度(du)沖擊(ji)試(shi)驗機控制(zhi)(zhi)精(jing)度(du)：溫(wen)度(du)±0.2℃（指控制(zhi)(zhi)器設定值(zhi)和控制(zhi)(zhi)器實(shi)測值(zhi)之(zhi)差）

　　溫(wen)度(du)(du)(du)波動度(du)(du)(du)：≤0.5℃（溫(wen)度(du)(du)(du)波動度(du)(du)(du)為中心點實測高溫(wen)度(du)(du)(du)和(he)低溫(wen)度(du)(du)(du)之差的一半）

　　溫度均勻度：≤2.0℃（溫度均勻度為每次測試中實測高溫度和低溫度之差的算術平均值。