一、溫度變化升降溫試驗箱技術參數:

　　冷凝方式：風冷或水冷

　　溫(wen)調(diao)濕方式(shi)：平衡調(diao)溫(wen)調(diao)濕方式(shi)(BTHC)PID智能調(diao)節

　　溫度范圍：0℃，-20℃，-40℃，-60℃，-70℃~150℃;20%-98%R.H

　　溫(wen)濕箱內均勻度：±0.5℃~±0.2℃;±4.0%RH

　　溫濕度控制精度：±0.2℃;±2.5%RH

　　控制器(qi)解(jie)析精(jing)度：±0.01%℃;±1%R.H

　　升溫速(su)率：平均3°C/min

　　降溫速率：平均1°C/min

　　內體材料：SUS#304優質(zhi)不銹鋼板

　　外殼材料：SUS#304拉絲不銹鋼板或防銹處理冷軋鋼板(噴塑)

　　絕緣材料：超細(xi)玻璃棉+聚胺脂泡沫

　　制(zhi)冷(leng)(leng)方(fang)式(shi)：機械式(shi)二(er)元制(zhi)冷(leng)(leng)方(fang)式(shi)

　　制(zhi)冷機(ji)：全封(feng)閉(法國泰(tai)康(kang)或德(de)國谷輪)壓(ya)縮機(ji)

　　制冷劑：R23/R404A

　　內箱(xiang)尺寸：80升對應(ying)的:寬40x高(gao)50x深40cm；

　　容積150升對應的:寬50x高60x深50cm；

　　容積225升對應的:寬(kuan)50x高75x深60cm；

　　容積408升對應的:寬60x高85x深(shen)80cm；

　　容積800升對應的:寬100x高100x深(shen)80cm;

　　容積1000升對應的:寬100x高100x深100cm
 

　　二(er)、安(an)全注意事項

　　1、箱(xiang)體(ti)內溫度≥55℃時(shi)，請勿打開制冷壓縮(suo)機(ji)，以(yi)保證壓縮(suo)機(ji)長(chang)壽命正常(chang)的(de)運行；

　　2、設備(bei)嚴禁用于易(yi)燃易(yi)爆、有毒、強(qiang)腐蝕物品的試驗(yan)；

　　3、有制冷功能的產(chan)品(pin)搬運時傾角不得大(da)于(yu)45℃，放(fang)置到(dao)位后(hou)，應靜放(fang)1～2天再開機，有利于(yu)制冷系統能正(zheng)常工(gong)作并(bing)延長壽命；

　　4、為保證(zheng)設備及試驗的安(an)全，請安(an)裝外部(bu)保護接地，并按設備銘牌要求供(gong)給電(dian)源；

　　5、試驗中除非必要請(qing)勿打開箱門或進入箱內，否則(ze)可能引起人身傷害(hai)以及設備誤動作；

　　6、設備箱門門鎖僅能從(cong)外部打開，進入箱內必須(xu)有人監護；

　　7、設備(bei)應有(you)可靠接地；

　　8、設(she)備設(she)有多種保護措(cuo)施，請定(ding)期檢查；

　　9、如(ru)果箱(xiang)內放入發熱試樣(yang)(yang)，試樣(yang)(yang)請使用外加電源，不要直接使用設備本身電源；

　　10、非專業(ye)人員(yuan)不(bu)得拆卸、維修；

　　11、切勿重力開啟/閉合產品箱門(men)，否則易(yi)導(dao)致箱門(men)脫(tuo)落，造成產品損(sun)壞，產生傷害事故；

　　12、產品長(chang)時間停止(zhi)使(shi)用(yong)時，應定(ding)期做驅除潮氣(qi)處(chu)理，避免(mian)損壞有關器件；

　　13、產品在搬運時(shi)，應(ying)小(xiao)心注(zhu)意避(bi)免損(sun)壞面板(ban)上(shang)的儀表等易(yi)損(sun)零(ling)部件；

　　14、詳細閱讀本(ben)(ben)設(she)(she)備所附文件后，方可(ke)操作本(ben)(ben)設(she)(she)備；

　　15、本試驗箱無(wu)防爆裝(zhuang)置，不得放入(ru)易(yi)燃易(yi)爆物品干燥(zao)；

　　16、在操作(zuo)當中，除(chu)非有必要(yao)，請不要(yao)打開箱門，否(fou)則可能引(yin)起人身傷害(hai)以(yi)及設備(bei)誤動作(zuo)。高(gao)低(di)溫汽沖出(chu)箱外十(shi)分(fen)危(wei)險(xian)箱門內側仍(reng)然保持高(gao)溫造成燙傷。

       三、原理及作用
  　 電子產品高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業，國防工業、航天、兵工業、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質，從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。