一、可程式冷熱沖擊試驗機產品名稱三箱冷熱沖擊試驗機（風冷式）

二、產品(pin)型號(hao)3AP-CJ-80A

三、設備用途(tu)：廣泛用于電子(zi)電器零組件塑膠等(deng)行業(ye)(ye)、自動化(hua)零部件、通(tong)訊組件、汽車配件、金屬、化(hua)學材料、塑料等(deng)行業(ye)(ye)，國防工業(ye)(ye)、航天、兵工業(ye)(ye)、BGA、PCB基(ji)扳、電子(zi)芯(xin)片IC、半導(dao)體(ti)陶(tao)磁及高分(fen)子(zi)材料之物(wu)理(li)性變化(hua)進(jin)行試(shi)驗(yan)，用來測試(shi)材料結構或復合材料，在瞬間下(xia)經(jing)*溫(wen)及極低溫(wen)的(de)連續(xu)環境下(xia)所能忍受的(de)程度(du)，藉以在最短(duan)時間內試(shi)驗(yan)其熱脹冷縮所引起的(de)化(hua)學變化(hua)或物(wu)理(li)變化(hua)。

四、是光電、金屬、光伏、塑料、硅膠、電器、橡膠、電子等工作材料或者工業行業的試驗設備。

五、有以下優勢：  

1.采用微電(dian)腦大型液晶LCD觸(chu)摸屏中(zhong)英文可(ke)隨意切換(huan)顯(xian)示(shi)的控制(zhi)器作(zuo)為主(zhu)要系統。  

2.此試(shi)驗(yan)設(she)備的(de)箱體(ti)分為三部(bu)分，分別為低溫(wen)儲(chu)蓄冷(leng)量區(冷(leng)沖(chong)擊(ji)時用)，高溫(wen)儲(chu)蓄熱(re)量區(熱(re)沖(chong)擊(ji)時用)，產品測試(shi)擺(bai)放(fang)區(冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)時用)，測試(shi)產品*靜(jing)止的(de)擺(bai)放(fang)在產品測試(shi)擺(bai)放(fang)區的(de)隔層架上，通過控制器指令把冷(leng)溫(wen)或者熱(re)溫(wen)通過氣體(ti)找開(kai)閥門(men)快速灌進來從而達到沖(chong)擊(ji)的(de)目的(de)。  

3.此試(shi)驗(yan)設備(bei)還可設定高溫(wen)、低(di)(di)溫(wen)及(ji)高低(di)(di)溫(wen)沖(chong)(chong)(chong)擊三(san)(san)種不同試(shi)驗(yan)條件的(de)(de)功能做測試(shi)，執(zhi)行高低(di)(di)溫(wen)沖(chong)(chong)(chong)擊或才冷(leng)熱沖(chong)(chong)(chong)擊條件時，可選擇兩(liang)箱式或三(san)(san)箱式的(de)(de)結構，除了可以做快速沖(chong)(chong)(chong)擊試(shi)驗(yan)效果外還并具有(you)高低(di)(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱的(de)(de)普通(tong)功能。  

4.高程(cheng)序記(ji)憶容量，可(ke)設定(ding)儲(chu)存100組程(cheng)序。  

5.具有RS-232C通信(xin)接口裝置，還可以(yi)加配USB直接用U盤導(dao)出測(ce)試(shi)數(shu)據，使用便捷。  

6.冷熱(re)沖擊試(shi)驗設(she)備故障時(shi)，配有自動(dong)機回路及(ji)警(jing)示訊號。發現輸(shu)入(ru)電(dian)力不穩定時(shi)，具有緊急停(ting)機裝置。  

7.具(ju)備全自動，高精度(du)系(xi)統回路(lu)，任一機件動作，*由P.L.C.鎖定(ding)處理。

六、容積、尺寸和重量(liang)

6.1.內容積80L

6.2.內箱(xiang)尺寸400*500*400mm   　 (W* H *D)

6.3.外型尺(chi)寸(約(yue))1550*1850*1600mm   (W* H *D)

6.4.重  量約900㎏

七、可程式冷熱沖擊試驗機性能指標

7.1.測(ce)試環境條件(jian)機器(qi)周圍環境溫度維持在+25~+30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2.滿足標準 .GB/T2423.1-2008 低溫試(shi)驗方(fang)法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高(gao)溫試驗方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊(ji)試驗Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊(ji)試驗Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫(wen)度范(fan)圍(wei)-40℃～+150 ℃ (風冷(leng)式)

7.3.1.低溫沖擊范圍-10℃～-40 ℃  

7.3.2.高(gao)溫沖擊范圍60℃～150 ℃  

7.4.高(gao)溫室(shi)

7.4.1.預熱溫(wen)度范圍RT～+165℃

7.4.2.升溫(wen)時間

+50℃→+165 ≤30min

注：升溫時間(jian)為高溫室單獨運(yun)轉時的性能

7.5.低溫室

7.5.1.預(yu)冷(leng)溫(wen)度(du)范圍(wei)RT～-55℃

7.5.2.降溫時間+20℃ → -55℃≤約60min

注：降(jiang)溫(wen)時間為低(di)溫(wen)室單獨運轉(zhuan)時的性能

7.6.試(shi)驗室(shi)（試(shi)樣區）

7.6.1.試(shi)驗方式(shi)采用*之蓄熱、蓄冷(leng)結(jie)構(gou)，強制冷(leng)熱風路切換方式(shi)導入(ru)測(ce)試(shi)區(qu)，沖(chong)擊時高溫區(qu)或低溫區(qu)的溫度沖(chong)入(ru)測(ce)試(shi)區(qu)進行(xing)沖(chong)擊,冷(leng)熱溫度沖(chong)擊測(ce)試(shi)。

7.6.2.溫度波動度±0.5℃

7.6.3.溫(wen)度偏差±2.0℃

7.6.5.溫度恢復時間3~5min；轉(zhuan)換溫度只需要≤10s（風門開啟時間：5秒(miao)以內(nei)）

7.7.沖擊暴露時間≥30min。