一、超快速冷熱沖擊試驗機產品名稱三箱冷熱沖擊試驗機（風冷式）

二、產品型號3AP-CJ-150A

三、系統說明

1、系統(tong)可(ke)作(zuo)自動循環沖(chong)擊或手(shou)動選擇性沖(chong)擊；

2、溫度感(gan)應器觸摸式(shi)可編程控(kong)制器；

3、可(ke)任意設(she)定二區(qu)或三(san)區(qu)沖擊，正向(xiang)或逆向(xiang)啟始；

4、內(nei)部(bu)動作(zuo)程序由(you)PLC與控(kong)制(zhi)器連(lian)線控(kong)制(zhi)，防止誤操作(zuo)；

5、故障(zhang)時(shi)，配有自動停，回路及警(jing)示訊號；

6、單獨(du)設定高溫或低溫時(shi)，亦可作(zuo)時(shi)間(jian)控制(zhi)。

四、控制(zhi)儀表愛佩自主研(yan)發的(de)(de)7英寸超大觸(chu)摸AP-950可程(cheng)序溫度(du)控制(zhi)器全觸(chu)摸屏控制(zhi)器，觸(chu)摸屏輸(shu)入，根據客(ke)戶要求可任意設定不(bu)同高(gao)低溫沖擊溫度(du)點，滿足做測(ce)試的(de)(de)不(bu)同需求。

五(wu)、設備(bei)用(yong)途(tu)：廣泛(fan)用(yong)于電(dian)子電(dian)器零組件(jian)塑(su)(su)膠等行業(ye)(ye)、自(zi)動(dong)化(hua)(hua)零部件(jian)、通訊組件(jian)、汽車配件(jian)、金(jin)屬、化(hua)(hua)學材料、塑(su)(su)料等行業(ye)(ye)，國防工業(ye)(ye)、航天(tian)、兵(bing)工業(ye)(ye)、BGA、PCB基扳、電(dian)子芯片IC、半導體陶磁(ci)及(ji)高(gao)分子材料之物理性變(bian)化(hua)(hua)進(jin)行試(shi)驗(yan)，用(yong)來測試(shi)材料結構或(huo)(huo)復合材料，在瞬間下(xia)經(jing)高(gao)溫及(ji)低溫的(de)(de)連續環境下(xia)所能忍受的(de)(de)程度，藉以在短時間內試(shi)驗(yan)其熱脹(zhang)冷縮所引起的(de)(de)化(hua)(hua)學變(bian)化(hua)(hua)或(huo)(huo)物理變(bian)化(hua)(hua)。

六、容積、尺寸和(he)重量

6.1.內容積150L

6.2.內(nei)箱(xiang)尺寸600*500*500mm   　 (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約)1750*1850*1700mm   (W* H *D)

6.4.重  量(liang)約(yue)1000㎏

七、超快速冷熱沖擊試驗機性能指標

7.1.測(ce)試環境(jing)條(tiao)件機器周圍(wei)環境(jing)溫度維(wei)持在(zai)+25~+30℃之間，相對濕(shi)度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大(da)氣壓力。

7.2.滿(man)足標準 .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法(fa)Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高溫試(shi)驗(yan)方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化(hua)試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖(chong)擊試驗Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yan)Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫(wen)度(du)沖擊試驗Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度(du)范圍-40℃～+150 ℃ (風冷式)

7.3.1.低溫沖擊范圍-10℃～-40 ℃  

7.3.2.高(gao)溫沖擊范圍60℃～150 ℃  

7.4.高(gao)溫室

7.4.1.預熱溫度范圍RT～+165℃

7.4.2.升溫時(shi)間

+50℃→+165 ≤30min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能

7.5.低溫室(shi)

7.5.1.預冷溫度范圍RT～-55℃

7.5.2.降溫時間(jian)+20℃ → -55℃≤約60min

注：降溫時(shi)間(jian)為低(di)溫室單獨(du)運轉時(shi)的性(xing)能

7.6.試驗室（試樣區）

7.6.1.試(shi)驗(yan)方式采用*之蓄熱、蓄冷(leng)結構，強制冷(leng)熱風(feng)路切換方式導入測(ce)試(shi)區，沖(chong)擊時高(gao)溫(wen)區或低溫(wen)區的(de)溫(wen)度(du)沖(chong)入測(ce)試(shi)區進行沖(chong)擊,完成冷(leng)熱溫(wen)度(du)沖(chong)擊測(ce)試(shi)。

7.6.2.溫度波動度±0.5℃

7.6.3.溫度偏差(cha)±2.0℃

7.6.5.溫(wen)(wen)度恢復時間3~5min；轉換溫(wen)(wen)度只需(xu)要≤10s（風門開啟時間：5秒以(yi)內(nei)）

7.7.沖擊暴露時間≥30min

2、可(ke)獨立設定(ding)高溫、低(di)溫及冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)三(san)種不同條(tiao)件(jian)(jian)之功能(neng)，執行(xing)冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)條(tiao)件(jian)(jian)時，可(ke)選(xuan)擇(ze)2箱(xiang)(xiang)或3箱(xiang)(xiang)之功能(neng)并具有高低(di)溫試驗機的功能(neng),相比于2箱(xiang)(xiang)沖(chong)擊(ji)它(ta)還可(ke)選(xuan)擇(ze)做(zuo)常溫沖(chong)擊(ji)。